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Identifikation schwach gekrümmter Substrate

LAYERTEC-Markierungskonventionen für schwach gekrümmte Substrate

LAYERTEC bringt bei schwach gekrümmten Substraten eine Markierung am äußeren Zylinder an. Dadurch lässt sich die Orientierung der beiden Seiten zuverlässig identifizieren. Wie unten dargestellt, zeigt die Markierung entweder auf die stärker gekrümmte, die schwächer gekrümmte oder die konkave Fläche – abhängig von der Gesamtform des Substrats. Diese Markierung wird nur bei Krümmungsradien R > 1000 mm verwendet.
Tabelle 1:LAYERTEC-Markierungskonventionen für schwach gekrümmte Substrate
Substrate mit einer planen und einer sphärischen FlächeSubstrate mit zwei sphärischen FlächenSubstrate mit zwei parallelen sphärischen Flächen (Meniskuslinsen)
Markierung zeigt auf die gekrümmte FlächeMarkierung zeigt auf die Fläche mit dem größeren Krümmungsradius (d. h. die schwächer gekrümmte Fläche)Markierung zeigt auf die konkave Fläche

Visuelle Identifikation

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Abb.2:Prüfgitter zur Identifikation der planen Seite und zur Erkennung eines Keilwinkels in optischen Komponenten

Die plane Seite bestimmen

  • Halten Sie das optische Element nahe ans Auge.
  • Beobachten Sie die Reflexion des Prüfgitters auf der optischen Fläche (fokussiert in die Ferne).
  • Unscharfes Reflexionsbild → gekrümmte Seite zeigt nach oben
  • Scharfes, unverzerrtes Reflexionsbild → plane Seite zeigt nach oben
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Abb.3:Scharfe, unverzerrte Reflexion des Prüfgitters zeigt die plane Seite der Optik

Hat das Substrat einen Keil?

  • Blicken Sie durch das optische Element auf das Prüfgitter.
  • Drehen Sie das Substrat um die Flächennormale.
  • Verschiebt sich das Muster gegenüber der Umgebung → Optik ist gekeilt
  • Keine Verschiebung → kein Keil vorhanden
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Abb.4:Ein seitlich versetztes Doppelbild des Prüfgitters weist auf einen Keilwinkel in der Optik hin
Adresse

LAYERTEC GmbH
Ernst-Abbe-Weg 1
99441 Mellingen
Germany

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